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      正是這些特點 使X熒光光譜儀在眾多行業得到應用

      發布時間:2022-01-18   點擊次數:128次
        X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度,可測定元素含量。儀器由激發源和探測系統構成,X射線管產生入射X射線,激發被測樣品,產生X熒光,探測器對X熒光進行檢測,具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點,被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬、玻璃、陶瓷和建材的調查和研究等方面。
       
        X熒光光譜儀的儀器特點:
       
        1、分析速度快。測定用時較短,10~300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
       
        2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系,但在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。
       
        3、非破壞性分析,在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散的現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
       
        4、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上同一族的元素也能進行分析。
       
        5、分析精密度高,含量測定已經達到ppm級別。
       
        6、制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
       
        X熒光光譜儀的主要用途:
       
        在各行業應用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等領域,特別是在RoHS檢測領域應用廣泛的儀器。大多數分析元素均可用其進行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。

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